京西テクノスのAgilent Medalist i1000D

『Agilent Medalist i1000D』は、民生用電子機器基板検査に最適なインサーキット・テストシステムです。

Agilent Medalist i1000D


特徴

新しいデジタル機能対応
  • Agilent Medalist i1000D の性能がさらに向上し、アナログのみのICT からデジタル機能が対応できるようになりました。
  • デジタルPCF/VCL ライブラリ・ベースのテスト、バウンダリ・スキャン、I2C/SPI シリアル・プログラミング

 

カバーエクステンドテクノロジー(CET)対応
  • 新機能としてバンダリースキャンとVTEPを組み合わせたCET技術により物理的なプローブアクセスなしで、VTEP テストを実行できます。
  • プリント基板上のテスト・ポイント数を減少できます。

 

VTEP2.0によるテスト・カバレッジの向上


仕様

システム仕様
  • 最大ノード数 ⇒3456(ピン・カード:最大27枚)
  • アナログ ⇒ピン・カード Un-mux 128チャンネル/枚
  • デジタル ⇒ピン・カード Un-mux 64チャンネル/枚

テスト項目 内容
  • オープン/ショート・テスト ⇒ショート・ピン・グループの吸い上げ方式
  • アナログ・インサーキット・テスト ⇒6線式測定
  • アナログ・ガーディング・ポイント数 ⇒10
  • ベクターレス・テスト技術 ⇒VTEP v2.0
  • ・BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査 ⇒VTEP
  • ・マイクロBGAの足浮き検査 ⇒iVTEP
  • カバーエクステンドテクノロジー ⇒CET
  • ・BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査 ⇒Yes
  • ・マイクロBGAの足浮き検査 ⇒Yes
  • シリアル・データ・バス・テスト ⇒I2C. SPIプログラミング機能
  • Boundary Scanテスト ⇒Yes
  • DIGITAL テスト ⇒Yes
  • 周波数測定 ⇒Yes
  • AC/DC電圧測定 ⇒Yes

ツール 内容
  • ファースト・バス歩留まり(FPY)レポート ⇒Yes
  • 部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート ⇒Yes
  • 歩留まり改善テスト ⇒Yes
  • テスト・アクセス改善ツール ⇒Medalist Bead Probe技術
  • パネル・テスト ⇒Yes
  • リレー・レベル診断ツール ⇒Yes
  • SPC品質改善ツール ⇒Yes