京西テクノスのAgilent Medalist i3070

『Agilent Medalist i3070』は、ハイエンド・インサーキット・テスト・システムです。

Agilent Medalist i1000D


特徴

  • GUI による容易な操作性
  • 高いテスト・スループット
  • 自由度の高いシステム・アーキテクチャ
  • 既存システムとの互換性
  • 自動デバッグ機能 (AutoDebug)
  • 自動最適化機能 (AutoOptimizer)
  • VTEP v2.0 ベクターレス・テスト技術

仕様

  • 最大ノード数 ⇒UnMuxピン・カード使用時:5184/Muxピン・カード使用時:5184
  • 最大チャンネル数 ⇒UnMuxピン・カード使用時:5184/Muxピン・カード使用時:1152
  • ドライバ/レシーバ マルチプレクス比 ⇒UnMuxピン・カード使用時:1:1 パーピン/Muxピン・カード使用時:9:2 マルチプレクス
  • ロジック・レベル(per channels) ⇒UnMuxピン・カード使用時:パーピン・プログラミング/Muxピン・カード使用時:パーチャンネル・プログラミング
  • ロジック・スレッショルド(per channels) ⇒ UnMuxピン・カード使用時:単一スレッショルド/Muxピン・カード使用時:プログラミング デュアル・スレッショルド
  • テスト・スピード(ベクターレート:パターン速度) ⇒UnMuxピン・カード使用時:6MPs/Muxピン・カード使用時:6MPs,12MPs,20MPs
  • 回路網解析 ⇒自動(IPG)
  • オペレーティング・システム ⇒Windows XP Professional
  • DUT電源の最大数 ⇒最大24プログラマブル電源
  • 周波数測定 ⇒60MHz
  • アナログ・テスト ⇒Yes
  • ベクター・プログラミング ⇒VCLおよびPCF
  • ベクターレス・テスト ⇒VTEP v2.0
  • 高電圧テスト ⇒100V
  • 低電圧テスト ⇒0.8Vセーフガード
  • バック・ドライブ電流 ⇒750mA
  • 部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート ⇒Yes
  • Boundary Scanテスト ⇒Agilent Boundary Scan, ScanWorks
  • Flash ISP(イン・システム・プログラミング) ⇒Yes
  • CPLD/FPGA ISP(イン・システム・プログラミング) ⇒Yes
  • インテリジェント歩留り改善テスト ⇒Yes
  • NANDツリー・プログラム生成 言語ベース ⇒Yes
  • 極性チェック・ソフトウエア ⇒Yes
  • SPC品質管理ツール プッシュボタン Q-Stats ⇒Yes
  • 自動修理ツール ⇒Medalist リペア・ツール
  • モジュラー構造(柔軟性/拡張性) ⇒1 to 4モジュール
  • デュアルウェル(2つの基板の交互テスト) ⇒Yes
  • スループット・マルチプライヤ(複数枚基板の同時テスト) ⇒Yes
  • 治具配線タイプ ⇒ショート・ワイヤ,ロング・ワイヤ